電鍍鍍層光譜分析

電鍍鍍層光譜分析

鍍層檢測：

2.1、常見金屬鍍層有：

 2.2、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內，

可小測量達0.001um。

2.3、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、鍍層層數為1-6層

2.5、鍍層精度相對差值一般<5%。

2.6、鍍層成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

單層分析精度，以Ni舉例：（相對差值）

報告打?。?/span>

可以PDF，Excel格式輸出報告，歷史數據查詢方便

安全使用,維護與保養

6.1、由于儀器非常精密，未經允許情況請不要打開儀器外殼，不要對X射線源和探測器進行改變，由于用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。

6.2、儀器安裝一定要平穩，儀器后面離墻距離不得小于30厘米，必須使用標準的220V交流電，電壓不穩情況要配備穩壓電源，插座必須接地良好，由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。

6.3、請不要用濕的手觸摸電源部分，帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。

6.4、進行測量時，因為高電壓流至X射線源，儀器運行時，不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。

6.5、儀器環境要求：儀器使用環境需清潔，溫度適宜15℃－30℃，濕度小于80%,電源：AC: 220V ±5V。

以上細節均有可能造成無法預測后果，買方應予以基本遵守。

驗收和保證值

   儀器的性能指標所引用的術語及定義都是根據行業標準， 所有誤差大都被表示成測量厚度的百分比或者絕對差值. 除特別說明外,所有數據指標都在西格瑪的可信狀態下。

   性能測試所用的標樣片都是國際標準的標準樣品,在相同的測試點進行測試.這些樣本必須受到保護,以免機械或化學的改變,這些將影響到X射線的測量。

性能測試要求環境溫度范圍在 15℃-30℃之間。

環境相對濕度 ≤80％

電    源：AC: 220V ±5V

性能主要測試精度和重復性；不能使測厚儀在測量過程中產生“晃動"

4.1測量精度

1）精度(單層)：

測厚儀的檢測精度表

本儀器產品特點：

采用了Si-Pin探測器，性能穩定，重復性和重現性好。

在客戶遠端請求下，我司技術人員可以遠程協助用戶解決常見操作問題（需連接因特網）。

可進行多達5層的多鍍層檢測。

無需象采用了正比計數器（PC比例器）的儀器那樣，需要標準樣頻繁較準。

全自動操作平臺，可以連續多點檢測，省時省力。

操作簡單，界面友好，數據直觀顯示。

雙重聯動屏蔽裝置，做到了X射線零輻射，讓使用者更安全

電鍍鍍層光譜分析