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      石英砂中雜質元素含量檢測儀器

      簡要描述:石英砂中雜質元素含量檢測儀器
      元素化學成分含量的測試,通常認可的分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子熒光法(AFS)、電感耦合等離子體法(ICP)、X熒光光譜(XRF)(只能定性半定量)、電感耦合等離子質譜法(ICP-MS),光譜法。

      • 產品型號:
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2023-03-07
      • 訪  問  量:38

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      詳細介紹

      石英砂中雜質元素含量檢測儀器

      我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、醫療器械重金屬含量測試、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。

      元素化學成分含量的測試,通常認可的分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子熒光法(AFS)、電感耦合等離子體法(ICP)、X熒光光譜(XRF)(只能定性半定量)、電感耦合等離子質譜法(ICP-MS),光譜法。各自優缺點如下:

      1. 原子吸收光譜法(AAS)

      原子吸收光譜法是20世紀50年代創立的一種新型儀器分析方法,它與主要用于無機元素定性分析的原子發射光譜法相輔相成,已成為對無機化合物進行元素定量分析的主要手段。這種方法根據被測元素的基態原子對其原子共振輻射的吸收強度來測定試樣中被測元素的含量。AAS法檢出限低,靈敏度高,精度好,分析速度快,應用范圍廣(可測元素達70多個),儀器較簡單,操作方便等?;鹧嬖游辗ǖ臋z出限可達到10的負9次方級(10ug/L),石墨爐原子吸收法的檢出限可達到10ug/L,甚至更低。原子吸收光譜法的不足之處是多元素同時測定尚有困難。  

       

      2. X射線熒光光譜法(XRF)

      X射線熒光光譜法是利用樣品對x射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡單、可分析元素范圍廣、譜線簡單,光譜干擾少,試樣形態多樣性及測定時的非破壞性等特點,在幾分鐘之內可同時測定20多種元素的含量。

      3. 電感耦合等離子體法

      (1)電感耦合等離子體原子發射光譜法(ICP-AES) 

      高頻感應電流產生的高溫將反應氣加熱、電離,利用元素發出的特征譜線進行測定譜線強度與重金屬量成正比。ICP-AES法靈敏度高,干擾小,線性范圍寬,可同時或順序測定多種金屬元素。

      (2)電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS) 

      將電感耦合等離子體與質譜聯用,利用電感耦合等離子體使樣品汽化,將待測金屬分離出來,從而進入質譜進行測定,通過離子荷質比進行無機元素的定性分析、半定量分析、定量分析,同時進行多種元素及同位素的測定,具有比原子吸收法更低的檢出限,是痕量元素分析領域中先進的方法,價格昂貴,操作復雜,易受污染。

       

      下面對廣泛應用于石英砂化學成分測試X熒光光譜XRF、AAS、ICP做簡單介紹: 

      X熒光光譜儀(臺式):

      術規格

       

      測量元素范圍

      從鈉(Na)到鈾(U)

      測量濃度范圍

      ppm99.99%  (不同元素,分析范圍不同)

      測量對象狀態

      粉末、固體、液

      元素分析能

      性可測從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素

      *分辨率

      129eV±5eV

      **分析精

      RSD0. 1%  (國標標樣)

      析時間

      次測試時間可調

      制冷方式

      制冷,無需任何耗材

      大樣品腔尺

      400mm x 340mm x 80mm

      抽真空樣品腔尺

      φ100mm×h75mm

      觀尺寸

      700mmx510 mmx336mm

      作電源

      AC 220V ±5V 、50Hz

      作環境

      室內溫度 15~30℃;相對濕度 ≤80%    (不結露)

      整機重量

      56KG

      性能特

       

      析效率

      速度快、精度好、效率高,采用自主研發的分析軟件能在 1- 120 同時完成從 11 (Na) 至 92 (U) 之間幾十種元素的 步準確分析

      能優勢

      1.    外形設計:大方美觀、堅固耐用、多重安全防護模式。

      2.    準直濾光系統:準直器+多組合濾光片,軟體自動切換, 滿足各種測試應用。

      3.    采用自主研發的SES 信號處理系統 (數字多道) ,有效提 高峰背比,讓測量更精準。

      4.    多維散熱系統:優化一體化散熱設計,使整機散熱性能得 到更大提高,確保 X 射線源的運行安全

      5.    輻射安全系統:多重防輻射泄露設計,輻射防護級別屬于 類產品

      6.    真空系統:選擇抽真空系統,優化測試環境,提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度,大大擴展分析儀的 析能力。

       

       


      7. 機芯溫度監控技術,確保射線源的安全可靠運 ,有效延長其使用壽命,降低使用成本

      件優勢

      8.    核心部件整套進

      9.    探測器:原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭,分辨率低  129eV±5eV ,能量線性和能量分辨率,高峰背比。

      10.  X  * 功率 50W 、 電壓 5-50KV   、 電流 0- 1000uA;長壽命 X 射線管。

      11.  高壓電源:*大功率 50 W、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA。

      8 小時穩定性0.05%。

      12.  信號處理器:采用進口信號處理器,適應高分辨率和高計 數率, 自調放大倍數,*道數:  4096。

      件優勢

      丹納赫和我司共同研發的 X 熒光分析軟件中文版,該軟 件融合經驗系數法、理論α系數法、線性擬合、二次曲線、 度校正、含量校正等多種分析方法,全面保證測試數據的準 。

      器配置

       

      統標配

      1.    數字多道型 SDD 探測器

      2.    X 射線源

      3.    高壓電源

      4.    性噪比電子線路系統

      5.    光路增強系統

      6.    8 準直+5 濾光

      7.    數字多道分析器

      8.    抽真空系統

      9.     品牌噴墨打印機

      10.  品牌計算機

      11.  X 熒光全元素分析軟件

      12.  樣品杯、保險絲

      13.  光譜專用穩壓電源 (選配)

      統選配

      1.    光譜專用研磨機 (選配)

      2.    光譜專用熔樣機 (選配)

      3.    光譜專用制粉機 (選配)

      4.    熔樣鉑金坩堝 (選配)

      5.    光譜儀專用壓片機 (選配)

      AAS儀器設備介紹:

      儀器測試元素:可測元素30余種

      可測定:鋰(Li),鈉(Na),鉀(K),銣(Rb,銫(Cs),鎂(Mg),鈣(Ca),鍶(Sr),鋇(Ba),釩(V),鉻(Cr),錳(Mn),鐵(Fe),鈷(Co),鎳(Ni),銠(Rh),鈀(Pb), 鉑(Pt),金(Au),銅(Cu),銀(Ag),鋅(Zn),鍺(Ge),鎘(Cd),銦(In),鎵(Ga),鉛(Pb),砷(As),鉍(Bi),硒(Se),銻(Sb),釕(Ru)等(因測試樣品不同測試元素多少有所不同)。

      性能指標

      1.光學系統

      波長范圍

      190nm—900nm 自動調整

      光柵刻線密度

      1800刻線/mm

      單色器

      消像差Czerny-Turner型單色器

      狹縫

      0.1、0.2、0.4、1.0、2.0nm,自動切換

      波長精確度

      ±0.10nm

      波長重復性

      0.05nm

      基線漂移

      靜態0.002A/30min  動態0.006 A/30min

      檢測器

      寬光譜范圍光電倍增管

      分辨率

      能分辨錳燈279.5nm279.8nm雙線,并且兩譜線間波谷能量應小于20

       

      2.光源系統

      燈座

      3燈座

      燈電源供電方式

      400Hz方波脈沖

      燈電流調節范圍

      2— 10mA平均電流

       

      3.原子化系統

      無火焰(石墨爐)分析方法

      檢出限(Cd

      ≤4pg

       

      4.無火焰(石墨爐)分析方法

      測量方法

      石墨爐峰高法,石墨爐峰面積法

      背景校正

      氘燈背景校正大于60倍,自吸收扣背景大于60倍

      重復測量次數

      1-30次,計算平均值,給出標準偏差和相對標準偏差

      結果打印

      打印測試數據或最終分析報告。結果可導出成Excel工作表。

      軟件環境

      Windows XP/ Windows 7操作系統,中文專業軟件

       

      二.儀器參數

      電源

      AC 220V/50HZ

      功率

      150VA

      儀器凈重

      55kg

      儀器毛重

      60kg

      工作環境溫度

      10~35

      工作環境濕度

      80%

      標準配置

      1.主機

      2.空心陰極燈

      3.操作軟件

      原子吸收分光光度計設計特點

      1. 全反射光學系統,全波段消色差,波長自動掃描、自動尋峰。

      2. 具有氘燈扣背景,自吸扣背景。
      3. 自動調節負高壓、燈電流、元素燈位置隨意調整能量好。

         8支空心陰極燈架。自動控制系統,全自動掃描波長。
      4. 石墨爐升溫:用戶可根據需要自由設定升溫曲線。

         采用先進的石墨爐恒功率法加熱原子吸收,實現了石墨管溫度均勻一致,石墨管工作溫度保持良好動態穩定,既能保證原子化效率,又可以保證檢測數據高重復性,大幅提高了石墨爐法檢測精密度。同時又延長石墨管的使用壽命,保證了分析準確度。

      5  高可靠性,儀器結實耐用:由于采用模塊化生產,每個模塊生產后進行單獨質量檢驗驗收。各模塊進行整機組裝后又進行整機質量考驗驗收,經過多層次嚴格考驗驗收的儀器,大幅提高了儀器的可靠性,使得儀器非常結實耐用。

      6  可靠的安全保護系統:采取多種安全保護措施,保護操作人員的安全。

      7  完善的石墨爐保護措施:同時檢測保護氣壓力、冷卻水流量,出現異常波動,立即停止加熱,并提示報警。

      8  冷卻水流量監視器:保證冷水流量足,保證能冷卻爐體時,石墨爐才可以加熱升溫。

      9  石墨爐分析時,屏幕給出全過程信息,包括測量值、溫度、程序、時間等,并保存積分時間內所有測量的信號曲線和溫度曲線,供用戶調閱和打印。

      10 根據需求隨時升級成為火焰-石墨爐一體機。

      ICP儀器設備介紹:

      ICP等離子體光譜儀的特點:

      1.射頻發生器的高壓供電回路,采用先進的電子技術,淘汰了笨重的升壓變壓器和高頻阻流圈,采用功率閉環反饋技術,控制精度小于0.1% 。

      2.全自動點火,氣路智能控制,實現軟件點火,更方便。

      3.安全冷卻水保護、氬氣保護、過壓、過流、滅弧保護更安全。

      4.輸出功率自動匹配調諧,功率參數軟件程序設定。               

      5.分光器內充氬氣,使波長在180nm的硫和189nmSn得到很靈敏的測量效果。

      6.優良的光學系統,先進的控制系統,保證峰位定位準確,信背比優良、極小的基體效應。  
      7.測量范圍寬,超微量到常量的分析,動態線性范圍5—6個數量級。
      8.檢出限低,大多數元素的檢出限可達ppb。 
      9.良好的測量精度,穩定性相對標準偏差RSD≤1.5%5ppm),優于標準(JJG768-2005。

      技術參數

      射頻發生器(RF)

      (1) 電路類型:自激振蕩電路,全自動點火,精密高壓開關電源供電系統,所有功能實現電腦軟件控制(點火、熄火、功率等參數設置);實時功率控制;自動匹配調諧;光室恒溫;;

      (2) 工作頻率:40.68MHZ±0.05% 

      (3) 頻率穩定性:<0.1% 

      (4) 輸出功率:700-1600w 

      (5) 輸出功率穩定性:≤0.3% 

      (6) 電磁場泄漏輻射強度:距機身300mm 電場強度E:<2V/m

      進樣裝置:

      (1) 輸出工作線圈內徑25mm,3匝 

      (2) 炬管:外徑20mm的石英炬管 

      (3) 同軸型噴霧器外徑6mm 

      (4) 雙筒形霧室外徑35mm 

      (5) 氬氣流量計規格和載氣壓力表規格: 

        ①、 等離子體流量計(100-1000)L/h ;(1.6-16L/min) 

        ②、 輔助氣流量計(6-60)L/h ;(0.1-1L/min) 

        ③、 載氣流量計(6-60)L/h ;(0.1-1L/min) 

        ④、 載氣穩壓閥(0-0.4MPa)

              儀器內設氬氣二次穩壓閥(0.3MPa)

          測光裝置:

            (1) 光電倍增管規格: R212UH 

            (2) 光電倍增管負高壓:200-1000V ,穩定性<0.05% 

            (3) 光電倍增管電流測量范圍:10-12 -10-4A 

            (4) 信號采集為V/F交換:1mV對應100Hz

      分光器:
      (1) 光路: Czerny-Turner
      (2) 焦距: 1000mm 
      (3) 光柵規格:離子刻蝕全息光柵,刻線密度3600線/mm,

           刻線面積: 80×110mm,線色散率倒數:0.26nm 
      (4) 波長范圍:180-500nm  
      (5) 分辨率: ≤0.008nm 
      (6) 掃描波長范圍3600線/mm 掃描波長范圍:180-500nm
      (7) 步進電機驅動最小步距:0.0006nm 
      (8) 入射狹縫:20µm   出射狹縫:25µm
      (9) 發射鏡規格:(78 × 105 × 16)mm 
      (10) 透鏡ф30,1:1成像

      整機技術指標:

      (1) 測量波長范圍:

      180-500nm    3600L/mm光柵

      180-800nm    2400 L/mm光柵

      (2) 測量精度(重復性):平均相對標準偏差RSD≤1%

      (3) 測量穩定性:平均相對標準偏差RSD≤2

      (4) 檢出下限:亞PPb級

      應用行業分類

      1、金屬類

      鋼鐵:包括碳素鋼、鑄鐵、合金鋼、高純鐵、鐵合金、硅鐵、錳鐵、釩鐵、鐵礦石,鉛的冶煉等。

      2、有色金屬分析:

      純銅,純鋁和合金中的雜質元素分析。

      貴金屬的純度分析:Au、Ag、Pt、Pd、Ir、Rh、Os、Ru。

      3、環境檢測類

      水質分析:礦泉水、自來水、河水、海水、污水、廢水等。

      食品分析:包括食品、飲料等。

      土壤成份分析:生物和植物樣品的分析。

      4、稀土材料和稀土永磁類

      稀土元素全分離,此儀器高分辨率非常適合稀土元素的分析。

      稀土永磁材料中對釹鐵硼材料的配分和成份的分析。

      5、地質礦物的分析

      精選礦的分析

      普查找礦分析

      6、食品醫藥分析

      食品中有益、有害元素的分析、藥材中的微量元素分析

      7.其他行業

      安裝條件

      1、儀器正常工作條件:實驗室內清潔、干燥、無灰塵、無振動。室溫保持為22℃±3

      2、房間:15平米左右為宜,配有標準溶液試劑柜,電腦桌、電腦椅,空調1.52匹。

      3、電源:220V,22A,使用4平方的電線。

      4、接地:為了安全和儀器的穩定,必須有高頻接地,用300×300×3mm的紫銅板埋于地下1.5米深處,用寬30×0.5mm的紫銅帶接到主機的機殼上。

      5、排風:要求在主機上方安裝排風筒,外接煙囪并用排風扇將ICP燃燒后的廢氣排到室外。

      6、氬氣:可使用普通氬氣99.99%即可

      典型元素檢出限(μg/L(測試對象不同有所不同):

      元素

      La

      Ce

      Pr

      Nd

      Sm

      Eu

      Gd

      Tb

      波長(nm)

      408.672

      413.765

      414.311

      401.225

      360.946

      381.967

      342.247

      350.917

      檢出限

      <3.0

      <5.0

      <5.0

      <5.0

      < 10.0

      < 1.0

      <10.0

      < 3.0

       

      元素

      Dy

      Ho

      Er

      Tm

      Yb

      Lu

      Y

      Sc

      波長(nm)

      353.170

      345.600

      337.271

      313.126

      369.419

      261.541

      371.030

      335.373

      檢出限

      <3.0

      <3.0

      <3.0

      <3.0

      <1.0

      <3.0

      <1.0

      <1.0

       

      元素

      Ta

      Nb

      Mn

      Mg

      B

      Zn

      Co

      Si

      波長(nm

      226.230

      313.340

      257.610

      279.553

      249.773

      13.856

      228.616

      251.611

      檢出限

      <5.0

      <5.0

      <3.0

      <1.0

      <10.0

      <3.0

      <3.0

      <10.0

       

      元素

      Ni

      Cd

      Fe

      Ca

      Mo

      V

      Be

      Ti

      波長(nm)

      232.003

      226.502

      239.562

      393.366

      281.615

      310.230

      313.041

      334.941

      檢出限

      <5.0

      <3.0

      <3.0

      <1.0

      <5.0

      <5.0

      <1.0

      <3.0

       

      元素

      Cu

      Cr

      Al

      Zr

      Ag

      Sr

      Au

      Pt

      波長(nm)

      324.754

      267.716

      396.152

      343.823

      328.068

      407.771

      242.795

      265.945

      檢出限

      <3.0

      <5.0

      <5.0

      <5.0

      <3.0

      <1.0

      <5.0

      <5.0

       

       

      元素

      As

      Sb

      Bi

      Hg

      Pb

      Ga

      Se

      波長(nm

      228.812

      206.833

      223.061

      253.652

      220.353

      294.364

      203.985

      檢出限

      ≤15

      ≤15

      ≤10

      ≤15

      ≤15

      ≤10

      ≤10

       

      元素

      Pd

      Ir

      Rh

      Ru

      Ba

      波長(nm)

      340.458

      224.268

      343.489

      240.272

      455.403

      檢出限

      <5.0

      <10.0

      <10.0

      <5.0

      <1.0

       

       

       

      元素

      Sn

      Te

      Ta

      Th

      Tl

      Re

      Ge

      波長(nm)

      242.949

      214.281

      226.230

      283.730

      276.787

      227.525

      209.426

      檢出限

      ≤20

      ≤10

      ≤5.0

      ≤10

      ≤30

      ≤5

      ≤15

       

      元素

      Os

      W

      Se

      Li

      Na

      K

      波長(nm)

      225.585

      207.911

      203.985

      670.784

      588.995

      766.490

      檢出限

      ≤1

      ≤10

      ≤30

      ≤3

      ≤20

      ≤60

       



      石英砂中雜質元素含量檢測儀器

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